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利用信号源预测串行器/解串器的抖动行为

http://www.sooq.cn2005年05月23日

反复测试过程

图2给出了简化的测量和归档SerDes中抖动行为的过程示意图。图中给出了“典型”值,但个别用户可以根据被测器件特征选择不同的参数。虽然该图只提供了测试的数据抖动部分,但数据抖动值保持不变情况下的时钟抖动过程将遵循相同的步骤。

执行这一过程时需要考虑几个问题。首先,测试需要在无任何误码的条件下运行一段时间,这段时间最好足够长以致于能得到一个有实际意义的BER值。但通常长期误码是靠外推法推断出来的。

另外,测试模式数据必须要充分发挥SerDes的性能。工业标准样本是PCI Express 1.0a规范中定义的PCI Express兼容模式。

测试结果

最好的结果描述是一系列的曲线,每条曲线代表某个时钟抖动值下SerDes能够容忍的数据抖动值,每条曲线的时钟抖动(幅度和频率)保持在一个固定值。x轴代表时钟抖动频率,y轴代表抖动幅度。

曲线的产生过程是这样的:逐步增加数据抖动幅度并确定器件能够通过的最大值,通过的条件是指定时间段内不产生比特误码。不同的图形轨迹表示不同的时钟抖动频率和/或幅度。图3给出了以这种方式生成的二条曲线例子。

作者:Christopher Skach


应用工程师


Tektronix公司

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